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中圖儀器SuperViewW1輪廓尺寸測量儀器設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

中圖儀器SuperVieW3D表面粗糙度輪廓檢測儀基于白光干涉原理，用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器SuperViewW白光表面3d輪廓儀的光學系統基于無限遠顯微鏡系統。通過干涉物鏡產生干涉條紋，使基本的光學顯微鏡系統變為白光干涉輪廓儀。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維光學輪廓儀基于白光干涉原理，結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，能以3D非接觸方式對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量。

中圖儀器SuperViewW1光學超光滑微透鏡形貌輪廓儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SuperViewW1光學三維形貌輪廓測量儀設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能；可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。